Attività: Teoria delle funzioni di Green; caratterizzazione morfologica di forma e dimensioni dei nanomateriali (SAXS); identificazione strutturale e caraterizzazione microstrutturale dei nanomateriali (XPD, WAXS); caratterizzazione morfologico/strutturale di superfici nanostrutturate (GISAXS); analisi morfologica di superfici ed interfacce in film sottili (XRS); MicroImaging a Raggi X (XMI).
Istituto: IC (Istituto di Cristallografia), Bari
Referente scientifico: Davide Altamura – davide.altamuraATic.cnr.it
Homepage: http://www.ic.cnr.it/ic4/en/x-ray-microimaging-laboratory-xmi-lb-ic-bari/