Microscopie a Scansione di Sonda – INO Pisa

Dinelli_figuraGrafene

Attività: Il gruppo utilizza microscopie innovative a scansione di sonda, AFM e derivati, come la microscopia ad ultrasuoni (UFM) o la microscopia piezoelettrica (PFM). Possiamo caratterizzare le proprietà morfologiche, meccaniche ed elettriche di Grafene e film sottili per elettronica organica. Le suddette proprietà possono essere studiate anche in funzione della temperatura e di campi esterni applicati.

Istituto: INO (Istituto Nazionale di Ottica), Pisa

Referente scientifico: Franco Dinelli – franco.dinelli@ino.it

Homepage: http://www.ino.it/?p2=persone&p=persone-dettagli&indice=342